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錦正茂科技 定制高低溫探針臺半導(dǎo)體測試 高低溫探針臺T8-LY100能夠為半導(dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個80K-420K高低溫測試環(huán)境，通過外接不同的電學(xué)測量儀器，

實驗測量儀器磁場探針臺芯片測試半導(dǎo)體儀器 用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。

半導(dǎo)體材料測量探針臺 高低溫真空磁場環(huán)境 高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。

變溫教學(xué)霍爾測試系統(tǒng) 磁場大于3900高斯 本儀器用于霍爾效應(yīng)及其應(yīng)用、載流子類型、載流子類型轉(zhuǎn)變的演示和學(xué)生實驗。