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定制芯片測(cè)試設(shè)備高低溫真空探針臺(tái) 高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

電磁學(xué)測(cè)量?jī)x器磁光克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) 可測(cè)試材料：記錄磁頭，磁性薄膜，特殊磁介質(zhì)，磁場(chǎng)傳感器

定制半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備JZM-D30室溫探針臺(tái) 該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的*精度雙極性恒流電源搭配使用，可以提高磁場(chǎng)的*穩(wěn)*性。

磁性薄膜材料測(cè)量設(shè)備磁光克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) 手動(dòng)左右和上下位移樣品，可測(cè)試樣品表面不同點(diǎn)的克爾效應(yīng)，樣品座有電接口，可加入磁電耦合測(cè)試。